一、產(chǎn)品描述：
 

　　長久以來，蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM一直是高分辨力與寬樣品適用性的代名詞。無論您從事的研究方向是什么，GeminiSEM都可以滿足您的需求。創(chuàng)新的電子光學(xué)系統(tǒng)和新型樣品腔室設(shè)計(jì)可讓您擁有更佳的圖像質(zhì)量、易用性和靈活性。蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM兼具出色的成像和分析能力，不依靠浸沒式物鏡依然可以輕松實(shí)現(xiàn)1 kV以下的亞納米級(jí)分辨力。以下內(nèi)容可以使您進(jìn)一步了解Gemini電子光學(xué)系統(tǒng)的三大*設(shè)計(jì)，探索蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM的應(yīng)用潛能。
 

　　場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡是一種高分辨率的電子顯微鏡。它利用電子束與樣品表面相互作用，通過檢測(cè)和分析電子束與樣品之間的相互作用信號(hào)，可以提供關(guān)于樣品形貌、表面結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分的詳細(xì)信息。
 

　　具有以下特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì)：
 

　　1. 高分辨率：具有很高的空間分辨率，可以觀察到納米級(jí)的細(xì)節(jié)和結(jié)構(gòu)。
 

　　2. 大深度焦距：具有較大的深度焦距，使得整個(gè)樣品表面都能夠獲得清晰的圖像。
 

　　3. 大視場(chǎng)：具有相對(duì)較大的視場(chǎng)，可以同時(shí)觀察到較大范圍的樣品表面。
 

　　4. 高靈敏度探測(cè)器：采用高靈敏度的探測(cè)器，可以檢測(cè)和收集來自樣品的不同類型信號(hào)，如二次電子、反射電子、透射電子等，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品性質(zhì)的多方面表征。
 

　　5. 化學(xué)分析能力：可以結(jié)合能譜儀(EDS或WDS)進(jìn)行元素分析，從而確定樣品的化學(xué)成分。
 

　　6. 表面形貌表征：可以觀察和研究不同材料的表面形貌、紋理和拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。
 

　　7. 應(yīng)用廣泛：在材料科學(xué)、生命科學(xué)、納米技術(shù)、半導(dǎo)體制造等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用，對(duì)于研究和開發(fā)新材料、表征材料性能和質(zhì)量控制具有重要作用。
 

　　總之，場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡是一種強(qiáng)大的工具，可以提供高分辨率的圖像和詳細(xì)的樣品信息，對(duì)于各種科學(xué)研究和工程應(yīng)用都具有重要價(jià)值。
 

       二、特征

 

　　1、更靈活的成像工具 – 配備Gemini 1鏡筒的GeminiSEM 360可以實(shí)現(xiàn)各種樣品的高分辨成像、分析和各種應(yīng)用需求的拓展。
 

　　2、更強(qiáng)大的分析能力 - 配備Gemini 2鏡筒的GeminiSEM 460可應(yīng)對(duì)更加復(fù)雜的分析工作。連續(xù)可調(diào)的大束流使您可以在成像和分析條件之間無縫切換。
 

　　3、更gao端的表征體驗(yàn) - GeminiSEM 560配有Gemini 3鏡筒及其新型電子光學(xué)引擎，讓它在各種工作條件下均可發(fā)揮該系列最chu色的分辨率特性。
 

　　蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 360
 

蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 460
 

蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560
 

“應(yīng)用量子技術(shù)中心”對(duì)什么樣的研究感興趣？
 

聚合物材質(zhì)的菲涅耳透鏡，通過注塑成型生產(chǎn)。
 

　　斯圖加特大學(xué)應(yīng)用量子技術(shù)中心ZAQuant的Mario Hentschel博士描述了該小組正在研究的課題和應(yīng)用、在實(shí)驗(yàn)室中面臨的挑戰(zhàn)以及如何利用蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560應(yīng)對(duì)這些挑戰(zhàn)。
 

　　“我們正在研究光學(xué)感應(yīng)和檢測(cè)應(yīng)用中最復(fù)雜的微結(jié)構(gòu)和納米結(jié)構(gòu)。因此，我們必須在納米尺度檢查和表征我們的器件。深入了解樣品信息不僅是過程控制和優(yōu)化的核心，在解釋感應(yīng)和檢測(cè)方案中涉及的局部現(xiàn)象時(shí)也必bu可少。除了單純的表面形貌信息外，我們也對(duì)納米材料組成分以及有意和無意的局部雜質(zhì)感興趣。
 

　　"所有這些應(yīng)用都要求電子顯微鏡具有高分辨率與樣品適用性。蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560可以很好地兼顧這兩點(diǎn)。它提供豐富的探測(cè)器選擇，從而能夠?qū)Ρ砻娓叩推鸱?、材料襯度、表面邊緣以及樣品的所有不同特征進(jìn)行成像和突出顯示。在日常工作中，我們經(jīng)常面對(duì)差異極大的樣品如形狀大小不同材料組成不同，給顯微表征帶來了很大的挑戰(zhàn)。我們能夠?qū)σ髽O為嚴(yán)苛且高難度的樣品(例如高度絕緣的聚合物和塑料)拍出高質(zhì)量的圖像，使荷電效應(yīng)的影響極小化。該系統(tǒng)可以在低倍和*的放大倍率下成像。在不久的將來，場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560將被安裝在斯圖加特應(yīng)用量子技術(shù)中心(ZAQuant)新建研究大樓的潔凈室中。ZAQuant的主要研究人員來自物理、機(jī)械、電氣工程、化學(xué)等不同領(lǐng)域，其應(yīng)用千差萬別，因此不僅要保持優(yōu)異的成像性能，還必須確保樣品適用性。因此，場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 560無疑將成為實(shí)驗(yàn)表征的利器。”
 

　　DE.Mario Hentschel博士，德國斯圖加特大學(xué)第4物理研究所和應(yīng)用量子技術(shù)中心。